Rasterelektronenmikroskopie mit EDX/EBSD-Analyse

Mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie können neben hochauflösenden, bildgebenden Verfahren (Sekundär- (SE) und Rückstreuelektronen (RE)) auch chemische (EDX) und kristallographische/ gefügestrukturelle (EBSD) Informationen erhoben werden.

• Elektronenmikroskopie im SE und RE-Modus erlaubt hochauflösend (Nanometer-Bereich) die Untersuchung von Gefügestrukturen und Phasenverteilungen
• EDX dient der ortsaufgelösten chemischen Analyse und ermöglicht die Visualisierung von Elementverteilungen zur Identifizierung von Phasen, Aufschmierungen o. Ä.
• Mit Hilfe von EBSD-Messungen können kristallographische Informationen ermittelt helfen, welche u.a. helfen die Verformung eines Werkstoffes zu beurteilen